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上海 冷热冲击试验箱运行稳定 3000 次循环无故障

所 在 地:

新桥镇泗砖南路255弄漕河泾开发区名企产业园59栋简户大楼研发中心

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更新日期:

2025-10-25 15:49:17

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产品说明
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上海 冷热冲击试验箱运行稳定 3000 次循环无故障——上海简户源头工厂:18917106312

上海简户仪器设备有限公司是一家高科技合资企业,专业生产销售盐雾箱、恒温恒湿机、冷热冲击机、振动试验机、机械冲击机、跌落试验机的环境试验仪器的公司,是一家具有研发生产销售经营各类可靠性环境试验设备的公司。经验丰富,并得到许多国内外厂商的信赖与支持。现在我们成为许多品牌的供应商。


摘要

本文聚焦芯片在**温差下的潜在缺陷风险,通过上海简户仪器与车规芯片企业的合作案例,论证冷热冲击试验箱对芯片可靠性验证的核心价值—— 其可精准复现 骤冷骤热场景,暴露传统测试无法察觉的封装开裂、焊点失效等问题,助力芯片符合车规 AEC-Q100、消费级 JEDEC 等行业标准。文章兼具场景化叙事与技术解析,文末从客户、厂家角度补充问答,为芯片企业提供实操参考。

引言

夏季暴晒后的车载芯片突然死机,冬季户外的智能手表芯片频繁重启,零下 40℃的极地科考设备中,核心芯片直接停止工作 —— 芯片虽体积微小,却常面临 冰火两重天的**环境。传统高低温箱仅能实现 5℃/min 以内的缓慢温变,无法模拟 从空调房到烈日下"“冬季启动车辆的极速温差,导致芯片出厂前看似合格,实际使用中却因热胀冷缩引发隐性故障。此时,冷热冲击试验箱为何成为芯片测试的 刚需设备"?上海简户仪器的一则车规芯片测试案例,揭开了答案。

某车规 MCU 芯片企业曾陷入困境:其研发的芯片在传统高低温测试(-40℃至 125℃3℃/min 温变)中合格率达 99.5%,但交付给车企后,装车测试时却出现 12% 的失效概率 —— 芯片在 “-30℃低温存放后,快速升温至 85℃工作场景下,封装胶体与晶圆间出现微裂纹,导致信号传输中断。传统测试因温变速率过慢,胶体与晶圆缓慢收缩、膨胀,隐性裂纹始终未暴露,问题根源难以定位。

与上海简户仪器合作后,解决方案逐步清晰。简户团队基于车规芯片 AEC-Q100 标准中 温度循环测试要求,结合车企实际工况,定制了专属测试方案:设备采用三槽式冷热冲击结构(高温槽、低温槽、测试槽),搭配进口铂电阻传感器,实现 - 60℃至 150℃的宽温区覆盖,且温变速率提升至 20℃/min—— 能精准复现 冬季车辆启动时,芯片从 - 30℃骤升至 85℃" 的真实场景。

经过 800 次循环测试,简户技术团队通过高倍显微镜观察发现:芯片封装胶体选用的环氧树脂与晶圆的热膨胀系数差异达 1.2×10??/℃,在极速温变下,胶体与晶圆的收缩、膨胀速度不同,最终引发微裂纹。随后企业优化胶体配方(降低热膨胀系数差异至 0.5×10??/℃),再次通过简户试验箱验证,芯片在**温差下的失效概率降至 0.3% 以下,顺利通过 AEC-Q100 Grade 2 认证,批量供应车企。

这一案例印证了冷热冲击试验箱对芯片测试的不可替代性:芯片内部的晶圆、封装胶体、焊点等部件材质不同,热膨胀系数存在差异,只有在极速温变下,这种差异才会被放大,隐性缺陷才会显现。上海简户仪器深耕该领域十余年,其设备可实现±0.1℃的温区控制精度,支持 1000 段可编程测试程序,能适配车规、消费级、工业级等不同类型芯片的测试需求,从源头为芯片可靠性 把关"

问答环节

一、客户角度

1.我们是做消费级蓝牙芯片的,测试时该如何设定冷热冲击的温区与循环次数?

答:需结合消费级芯片的应用场景与行业标准(如 JEDEC JESD22-A104)。若芯片用于手机、耳机(日常环境温度 - 10℃至 60℃),建议温区设定为 - 40℃至 85℃;若用于户外穿戴设备(如运动手表),低温可降至 - 55℃。循环次数方面,消费级芯片通常需完成 100-200 次循环(单次循环含高温停留、低温停留、温变切换环节),既能暴露潜在缺陷,又不会过度消耗测试周期。可将产品应用场景告知上海简户仪器,获取定制化参数表。

2.芯片体积很小(如 3mm×3mm),测试时如何避免温区不均导致的误判?

答:需关注试验箱的温场均匀性指标。上海简户仪器的冷热冲击试验箱温场均匀性达 ±2℃(行业平均为 ±3℃),且针对小尺寸芯片,会配备专用微型样品架 —— 样品架采用导热性好的铝合金材质,确保芯片各部位与试验箱温区同步变化,避免局部温度偏差导致误判。测试前可通过温度验证仪(如热电偶)对芯片表面温度进行校准,进一步提升测试准确性。

二、厂家角度

1.相比普通冷热冲击试验箱,上海简户针对芯片测试做了哪些专属优化?

答:核心优化在精细化控制与 兼容性两方面。一是温度控制系统:采用双 PID 调节(分别控制加热、制冷模块),温变速率可从 5℃/min 至 25℃/min 无级调节,适配不同芯片(如车规芯片需 20℃/min,消费级芯片需 10℃/min)的测试需求;二是样品放置:提供可调节间距的网格样品架,支持多颗小尺寸芯片同时测试,且样品架与箱体绝缘,避免电磁干扰影响芯片参数;三是数据记录:配备高精度数据采集系统,可实时记录芯片温度、测试时间等参数,生成符合行业标准的测试报告(如 AEC-Q100 格式),方便客户后续认证。

2.芯片测试后若发现缺陷,上海简户能否提供辅助分析服务?

答:可以。我们不仅提供测试设备,还配套缺陷溯源辅助服务":测试完成后,若芯片出现失效,技术团队可结合测试数据(如温变曲线、循环次数),协助客户分析缺陷可能的成因(如热膨胀系数不匹配、焊点工艺问题);同时可提供行业案例参考(如类似芯片的缺陷解决方案),帮助客户快速定位优化方向。此外,我们还与第三方检测机构合作,可协助客户进行缺陷的微观观测(如扫描电镜分析),进一步提升问题解决效率。

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